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ISPX射线荧光测厚iEDX-150T可以用在多个行业领域,用来检测氮化铝陶瓷覆铜基板,可完成氮化铝陶瓷覆铜基板项目。符合多项行业标准http://www.sense.cc/newsinfo/461186.html。
iEDX-150T镀层测厚仪在氮化铝陶瓷基板镀层领域的应用案例。随着国内外LED行业向高效率、高密度、大功率等方向发展,开发性能优越的散热材料已成为解决LED散热问题的当务之急。一般来说,LED发光效率和使用寿命会随结温的增加而下降,当结温达到125℃以上时,LED甚至会出现失效。为使LED结温保持在较低温度下,必须采用高热导率、低热阻的散热基板材料和合理的封装工艺,以降低LED总体的封装热阻。
SDD探测器,能量分辨率为125±5eV
探测器Be窗0.5mil(12.7μm)
微焦X射线管50KV/1mA,钼,铑靶(高配微焦钼靶)
6个准直器及多个滤光片自动切换
XYZ三维移动平台,zei大荷载为5公斤
高清CCD摄像头(200万像素),准确监控位置
多变量非线性去卷积曲线拟合
高性能FP/MLSQ分析
仪器尺寸:618×525×490mm
平台移动范围:160×160×100mm
图谱界面
软件支持无标样分析
宽大分析平台和样品腔
集成了镀层界面和合金成分分析界面
采用多种光谱拟合分析处理技术
镀层测厚分析精度可达到0.001μm
分析报告结果
直接打印分析报告报告可转换为PDF,EXCEL格式
样品分析图谱:
测试结果界面:
iEDX-150T镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域
技术指标
多镀层分析,1~5层
测试精度:0.001 μm
元素分析范围从铝(Al)到铀(U)
测量时间:10~30秒
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贵金属镀层膜厚仪 iEDX-150T
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