您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
NANOMAP 500LS轮廓仪/三维形貌仪,既有高精密度和准确度的局部(Local)SPM扫描,又具备大尺度和高测量速度;既可用来获得样品表面垂直分辨率高达0.05nm的三维形态和形貌,又可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸,诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等,并计算关键部位的面积和体积等参数。样件无须专门处理,在高速扫描状态下测量轮廓范围可以从1nm 到10mm。该仪器的应用领域覆盖了薄膜/涂层、光学,工业轧钢和铝、纸、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介质和半导体等几乎所有的材料领域。美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的领先供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。NANOMAP 500LS轮廓仪/三维形貌仪技术特点
常规的接触式轮廓仪和扫描探针显微镜技术的完美结合。
双模式操作(针尖扫描和样品台扫描),即使在长程测量时也可以得到zei优化的小区域三维测图。
针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式,三维扫描范围从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到50mm。
在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察。
针尖扫描采用双光学传感器,同时拥有宽阔测量动态范围(zei大至500μm)及亚纳米级垂直分辨率 (zei小0.1nm )
软件设置恒定微力接触。
简单的2步关键操作,友好的软件操作界面。
应用
三维表面轮廓测量和粗糙度测量,即适用于精密抛光的光学表面也可适用于质地粗糙的机加工零件。
薄膜和厚膜的台阶高度测量。
划痕形貌,磨损深度、宽度和体积定量测量。
空间分析和表面纹理表征。
平面度和曲率测量。
二维薄膜应力测量。
微电子表面分析和MEMS表征。
表面质量和缺陷检测。
探针式轮廓仪/三维形貌仪,NANOMAP 500LS
探针式轮廓仪/三维形貌仪信息由亿诚恒达科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于探针式轮廓仪/三维形貌仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
三维表面形貌仪 SURFIEW500
三维表面形貌仪 SURFIEW 2000
三维表面轮廓仪 SURFIEW 2500
非接触光学轮廓仪 SURFIEW 3000
三维表面形貌仪 SURFIEW 4000
三维表面轮廓仪 SURFIEW 6000
四川大学查看采购价格
·黑龙江大学查看采购价格
群组论坛--表界面物性测试
您可能要找:阿尔派轮廓仪探针式轮廓仪/三维形貌仪价格NANOMAP 500LS轮廓仪参数
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号