ICP-MSOptiMass 9600ICP-oTOFMS 等离子体飞行时间质谱仪 |ICP-OES法测定半导体材料制备工艺中镓、铁、钒、铜、钙、镁、铝、锌和硫含量(GBC)

GBCICP-oTOFMS 等离子体飞行时间质谱仪OptiMass 9600可用于测定半导体材料，适用于镓、铁、钒、铜、钙、镁、铝、锌和硫项目。并且参考多项行业标准。可应用于电子/半导体行业领域。

• 同位素的比例精确度媲美TIMS

• 专利离子白化器用于消除有干扰的质量数

• 八极杆碰撞池(OCC) zei大程度地减少样品分析过程中的干扰

• 改进的真空系统，引入额外的260L/s 涡轮泵，补充OCC 需要增加的气体负荷

• 极低的检出限，可低至ppt 范围

• 整个质量数范围内对未知样品快速筛选

ICP-MSOptiMass 9600ICP-oTOFMS 等离子体飞行时间质谱仪 |ICP-OES法测定半导体材料制备工艺中镓、铁、钒、铜、钙、镁、铝、锌和硫含量,OptiMass 9600

ICP-MSOptiMass 9600ICP-oTOFMS 等离子体飞行时间质谱仪 |ICP-OES法测定半导体材料制备工艺中镓、铁、钒、铜、钙、镁、铝、锌和硫含量信息由北京东西分析仪器有限公司为您提供，如您想了解更多关于ICP-MSOptiMass 9600ICP-oTOFMS 等离子体飞行时间质谱仪 |ICP-OES法测定半导体材料制备工艺中镓、铁、钒、铜、钙、镁、铝、锌和硫含量报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。