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冷冻断裂系统 Leica EM BAF060(徕卡)

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

冷冻断裂系统 Leica EM BAF060 - Leica EM BAF060是一套高端制样系统,可以实现冷冻断裂、蚀刻、冷冻干燥及双复型,高分辨率碳/金属 复合镀膜,适用于TEM或SEM分析。 样品的冷冻复型通常采用电子束蒸发方式喷镀双重膜,或者在冷冻状态下表面镀薄膜,应用Leica EM VCT100,转运带有复型的冷冻样品或镀膜的冷冻样品,实现Cryo SEM分析或观察。 Leica EM BAF060的特点是带有先进的微操作切片机,两个电子源独立工作,投影参数灵活设置,并带有交换预抽室。 高重复性,高度样品保护 微操作切片机由马达控制转动及精确步进,并具有起抗污染作用的快门装置,使得复型结果具有高重复性,并且高度保护样品,使不受污染。 准确终止镀膜 通过石英晶片膜厚监控器,可以准确终止镀膜,并且自动关闭快门保护样品,实现镀膜厚度的高重复性,且样品不受热影响。 样品无污染 装载样品及2个电子源,都通过1个交换预抽室来完成,无需将样品仓放气,保证样品无污染。 与Leica EM VCT100兼容 可与VCT100冷冻样品真空传输系统配套,为您提供冷冻EM样品制备的全套方案。

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