您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
作为一款全自动高性能化系统,它可同时为各种先进材料研究提供超快速扫描、高分辨率测试以及各种模式的纳米测试。
产品特点
全自动
高速高分辨率大范围扫描器
优异的闭环控制
所有SPM 模式适用
低漂移
对环境振动不敏感
1300 nm 原子力反馈激光
可与拉曼耦联
适合不透明样品
SmartSPM 原子力显微镜,SmartSPM 原子力显微镜
SmartSPM 原子力显微镜信息由HORIBA科学仪器事业部为您提供,如您想了解更多关于SmartSPM 原子力显微镜报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
KS D 2714-2016 横向力显微镜扫描探针显微镜方法
GB/T 29190-2012 扫描探针显微镜漂移速率测量方法
GB/T 26113-2010 微机电系统(MEMS)技术 微几何量评定总则
JJF 1351-2012 扫描探针显微镜校准规范
JY/T 0582-2020 扫描探针显微镜分析方法通则
GB/T 31227-2014 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法
GB/T 28872-2012 活细胞样品纳米结构的磁驱动轻敲模式原子力显微镜检测方法
KS D 2714-2006 扫描探针显微镜.横向剪切力的测量方法
KS D 2714-2016(2021) 扫描探针显微镜-侧向力显微镜法
ASTM E2382-04 扫描隧道显微镜学和原子力显微镜学中扫描器和与触点相关物品的指南
JIS K 0132:1997 扫描电子显微镜总则
ISO/TS 21383:2021 微束分析.扫描电子显微镜.定量测量用扫描电子显微镜的鉴定
ASTM E2382-04(2020) 扫描隧道显微镜和原子力显微镜中的扫描仪和尖端相关人工标准指南
SJ/T 11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法
T/CSTM 00003-2019 二维材料厚度测量 原子力显微镜法
GB/T 42659-2023 表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量:测量系统校准
ISO 21222:2020 表面化学分析.扫描探针显微镜.用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序
KS D ISO 22493-2022 微束分析.扫描电子显微镜.词汇
KS D ISO 22493:2022 微束分析.扫描电子显微镜.词汇
ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用电扫描探针显微镜对半导体器件中载流子浓度进行实验量化的指南
微生物测试片在食品致病菌检测中的应用
618色谱耗材精品课程——蛋白质组学前沿研究分享
离子淌度技术在组学中的应用
细胞说|多维组学与能量代谢技术主题研讨会
Combiscope 原子力显微镜
上海交大/上硅所黄富强课题组设计新型超快充钠离子电池负极材料 | 用户成果速递
【设备更新仪器推荐】高速高分辨显微共焦拉曼光谱仪——LabRAM Odyssey
【设备更新仪器推荐】全自动模块化荧光寿命光谱仪——DeltaFlex
突破拉曼光谱分辨率限制——SERS & TERS | 全球直播
HORIBA 为功效型化妆品开发赋能!
【设备更新仪器推荐】纳米粒度及Zeta电位分析仪 —— SZ-100V2
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号