导读:布拉迪斯拉发先进材料应用中心(Center of Advanced Material Applications in Bratislava)的科研工作者利用对光致各向异性有不同响应的超高分辨散射式近场光学显微镜-neaSNOM,研究了有机半导体薄膜的分子取向与离散分子结构异质性的关系,揭示了分子取向对分子缺陷的影响。在此过程中,作者自创了一种综合利用振幅和相位信号测量分子取向的方法。上图:利用Neaspec设备表征材料得到的s-SNOM结果 
[报告简介]透射电子显微镜(TEM)能够以高的空间分辨率,观察样品的精细结构,从而广泛用于材料科学、以及纳米技术、半导体研究及生物学研究等领域中。近年来出现的台式低压小型透射电镜(Low-Voltage electron microscope, LVEM),采用远低于大型透射电镜的电压(5kV/25kV)来加速电子束,能够与轻元素样品产生更强烈反应,不再需要对样品额外的染色,大的提升了图像的衬度和对比度,尤其适合高分子、生物等样品表征;同时,台式低压透射电