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光学热膨胀仪(美国TA仪器)

美国TA仪器

  仪器介绍:   DIL806光学热膨胀仪是一种创新的[1]和通用的测量热膨胀和收缩的仪器。测量样品的长度时完全没有接触,因此非常适合于薄的,形状不规则的和软的样品。   [1]美国专利#7524105     技术   DIL806光学热膨胀仪采用了创新的测量原理,使非传统的热膨胀实验成为可能,并改善了许多传统的测试。   测量原理   DIL 806采用了阴影光的方法。在该方法中,通过测量CCD探测器上样品的阴影来测量一个方向上样品的绝对尺寸的大小。高强度的GaN LED发出平面光,通过一个扩散单元和准直透镜,产生高度均匀的、短波平面光。该光的一部分被样品阻挡。有阴影的光束通过远心光学系统进行精细处理,并由高分辨率的CCD探测器记录。数字边缘检测自动确定阴影的宽度,进而测定样品的尺寸。   绝对测量的优势   DIL806测量本质上是一个绝对的测量,不受随温度程序变化的系统热膨胀的影响。 只有样品经历温度的变化,光源和检测器与这些变化相隔离。因此,测量是绝对的,不需要进行顶杆式膨胀仪使用中常见的特定测试的校准。

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