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世界zei顶级的原子力显微镜世界上扫描速度zei快、分辨率zei高的的原子力显微镜
Dimension FastScan原子力显微镜 (AFM)在不损失Dimension® Icon®超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下,zei大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新,从根本上解决了AFM成像速度慢的难题,大大缩短了各 技术水平的AFM用户获得数据的时间。为提高AFM使用效率和检测性能,Bruker开发了这套快速扫描系统,不降低分辨率,不增加操作复杂性, 不影响仪器使用成本的前提下,帮助用户实现了利用Dimension快速扫描系统,即快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时,无论 设置实验参数为扫描速度 > 125Hz,还是在大气下或者溶液中1秒获得一张AFM图像,都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功 能。
聚合物材料表征,集成光路测量,材料力学性能表征,MEMS制造,细胞表面形态观察,生物大分子的结构及性质,数据存储,金属/合金/金属蒸镀的性质研 究,食品、化学品、护肤品的加工/包装,液晶材料性能表征,分子器件,生物传感器,分子自组装结构,光盘存储,陶瓷工艺,薄膜性能表征,地质、能源、环境 等领域的监测等各类科研和生产工作卓越的仪器检测性能在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍,自动激光调节和检测器调节,智能进针,大大缩短了实验时间。自动测量软件和高速扫描系统完美结合,大幅提高了实验数据的可信度和可重复性。无与伦比的测量分辨率Fastscan精确的力控制模式提高了图像分辨率的同时,延长了探针的使用寿命。扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像,扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。低噪音,温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。全面的测试功能,适用于各类AFM样品闭环控制的Icon和FastScan的扫描器极大的降低了Z方向噪音,使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm,具有超低的热漂移率,可得到超高分辨的真实图像。Fast Scan可以对不同样品进行测量,保证扫描过程中从埃级到0.1μm的高精度无失真扫描。
不 论您选择Icon扫描器获得超低噪音和超高分辨率的图像,还是选择Dimension FastScan AFM的扫描器进行高速扫描检测,Dimension FastScan AFM系统都会帮助您将仪器的功能开发到zei大程度,实现其它单一模式的仪器所达不到的效果。
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