X荧光镀层测厚仪 X射线荧光测厚Thick 800A 适用于分析电镀产生的废气、废水、废渣(天瑞仪器)

天瑞仪器X射线荧光测厚Thick 800A可用于测定废气、废水、废渣，适用于分析电镀产生的废气、废水、废渣项目。并且参考多项行业标准RoHS 2.0指令。可应用于高分子材料行业领域。

　　仪器介绍

　　 Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

　　性能特点

• 　　满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

• 　　φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

• 　　高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

• 　　采用高度定位激光，可自动定位测试高度

• 　　定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

• 　　鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

• 　　高分辨率探头使分析结果更加精准

• 　　良好的射线屏蔽作用

• 　　测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
一次可同时分析多24个元素，五层镀层。
分析含量一般为2ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
仪器尺寸：576(W) x 495 (D) x 545（H） mm
重量：90 kg

标准配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

　　应用领域

　　黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.

　　金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。

　　主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

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