EPMA-1720系列岛津电子探针 适用于使用岛津电子探针 EPMA 对不同类型的光纤进行线、面分析测试(岛津)

岛津电子探针EPMA-1720系列可以用在多个行业领域，用来检测光纤，可完成使用岛津电子探针 EPMA 对不同类型的光纤进行线、面分析测试项目。符合多项行业标准暂无。

　　使用岛津电子探针EPMA可对不同类型的光纤进行线、面分析测试。从单根光纤试样的横截面的元素线分布和面分布的测试结果可以观察掺杂元素的含量及扩散分布情况。凭借其在微区分析的强大能力，可以在光纤预制棒、烧缩工艺后质量控制和最终成品光纤复核检验的整个开发及生产流程、残次品的失效分析中发挥重要作用。

图为小孔穴中异物的分析实例。左下图为铁（Fe）、右下图为钛（Ti）的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角，对表面凹凸明显的样品也能进行高精度分析。

 从SEM观察到开始分析，简便易行，大幅度提高工作效率。

同一显示器上同时显示高灵敏度的光学图像和SEM图像

在同一个显示器上观察光学图像和SEM图像。


SEM图像和光学图像在同一显示器上，减少视线的移动。

通过高灵敏度的CCD可以观察很暗的样品。

只需单击一下即可开始SEM图像观察。

只需点击【SEM AUTO】图标，就可以根据事先设定的条件进行SEM图像的观察。

束流变换更加简单·快速·高精度，且保持聚焦。

只需选定束流目标值即可快速、高精度地自动设定束流。
通过联动控制，束流大小改变后也能保持图像聚焦状态。

※外观及规格的变动，恕不另行通知。

    　　技术参数：

    　　●分析元素范围 4Be～92U

    　　●X射线分光器数 2～5 道

    　　●X射线取出角 52.5°

    　　●罗兰圆半径 4英寸(101.6mm)

    　　●二次电子分辨率 6nm ( EPMA-1720), 5nm ( EPMA-1720H)

先进的分析本领与优越的操作性能融为一体！前沿科技，隆重登场。

高灵敏度 ·  高精度 ·  高分辨率 「简单•易懂的操作」

从软件到硬件凝结了全新技术，铸就了新一代EPMA。岛津EPMA在保持了一贯的高灵敏度·高精度·高分辨率的基础上，又新增了简单·易懂的操作性能，将电子探针功能发挥至极致。既可满足初学者简易操作的需求，又能适合专家级的科研分析。

 前沿设计的X射线分光器可以实现高灵敏度·高精度分析

X射线取出角决定分析性能，52.5°高取出角更胜一筹

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