DC-ARC直流电弧光谱仪Prodigy利曼 利曼Prodigy直流电弧光谱仪 (DC Arc) 测定高纯硅中的痕量元素(利曼)

利曼ICP-AESProdigy适用于铝、硼、钙、铬、铜、铁、锰、镍、磷、钛和钒项目，参考多项行业标准。可以检测高纯硅等样品。可应用于电子/半导体行业领域。

硅是地壳中第二常见的元素，其熔点为1414℃。但自由态的硅元素很少在自然界中找到。由于其电阻性和相对高的热传导性能，硅被广泛应用。高纯硅被广泛应用于太阳能工业，例如被制成硅晶片，太阳能电池和硅基半导体。作为合金，硅铁合金占世界上硅制品的绝大多数，被用于钢铁工业。硅同样用于改善铝的硬度和抗磨性，使其可用于钢铁生产。

仪器简介
Prodigy直流电弧发射光谱仪可实现对复杂样品的直接分析，而无需样品消解过程，这些样品诸如：陶瓷和玻璃、金属氧化物、碳化物、硼化物以及氮化物、难溶粉末如SiC、贵金属及其它高纯金属、石墨粉末、地质原料、核原料-氧化铀、氧化钚、土壤、淤泥、煤灰、油漆等。

主要特点

Prodigy直流电弧发射光谱仪采用了长焦距中阶梯光栅和光学系统。由此获得的性能的提升将直流电弧光谱技术带入了一个全新领域。
■ 分析速度快
所有元素一次激发60秒内即可获取结果。
■ 大范围波长覆盖，无谱级重叠
■ 分辨率高，谱图干扰小
L-PAD检测器是传统检测器面积的四倍，具有出色的分辨能力，消除了谱图间的干扰。
■ 真正实现全谱直读功能
同步背景校正；
出色的内标校正能力；
方法线均值统计，具备高准确度，强弱谱线同步测量；
用户自行定义方法可选。

DC-ARC直流电弧光谱仪Prodigy利曼 利曼Prodigy直流电弧光谱仪 (DC Arc) 测定高纯硅中的痕量元素,Prodigy

DC-ARC直流电弧光谱仪Prodigy利曼 利曼Prodigy直流电弧光谱仪 (DC Arc) 测定高纯硅中的痕量元素信息由利曼中国为您提供，如您想了解更多关于 DC-ARC直流电弧光谱仪Prodigy利曼 利曼Prodigy直流电弧光谱仪 (DC Arc) 测定高纯硅中的痕量元素报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。