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NanoCalc薄膜反射光谱仪系统(海洋光学)

海洋光学亚洲公司

NanoCalc薄膜反射光谱仪系统

NanoCalc 薄膜反射测量系统 薄膜的光学特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射测量系统可以用来进行10nm~250µm的膜厚分析测量,对单层膜的分辨率为0.1nm。根据测量软件的不同,可以分析单层或多层膜厚。产品特点

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NanoCalc
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