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发布时间:2023年06月
冷热冲击试验箱
冷热冲击试验箱 Hot And Cold Shock Test Chamber设备特点规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择,充分满足不同用户的各种要求;设备还可提供标准高低温试验功能,实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容;高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性;工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强,使用寿命长;高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减小;表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命;高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性;多种可选功能(测试孔、记录仪、测试电缆等)保证了用户多种功能和测试的需要;大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果;环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求;*冷热冲击试验箱 Hot And Cold Shock Test Chamber可根据用户要求定制尺寸/定制使用指标/定制各种选配功能*温度控制可实现温度定值控制和程序控制;全程数据记录仪(可选功能)可以实现试验过程的全程记录和追溯;每台电机均配置过流(过热)保护/加热器设置短路保护,确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性;USB接口、以太网通讯功能,使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要;采用流行的制冷控制模式,可以0%~100%自动调节压缩机制冷功率,较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%;制冷及电控关键配件均采用,使设备的整体质量得到了提升和保证;*冷热冲击试验箱 Hot And Cold Shock Test Chamber设备满足以下标准GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验A:低温GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验B:高温GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则GJB 150.3A-2009 **装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验GJB 150.4A-2009 **装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验GJB 150.5A-2009 **装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验
主要技术指标:
两箱式高低温冲击试验箱
型号
CTS-50
CTS-120
CTS-180
HxWxD(mm)
内
300x460x350
500x610x400
600x660x450
外
2250x1200x1950
2720x1050x1950
2920x1100x2150
性能参数
高温室
温度暴露范围
﹢60℃ ~ ﹢200℃
预热温度上限
200℃
升温时间
R.T→﹢200℃约40min
低温室
0 ~ ﹣75℃
预热温度下限
﹣75℃
降温时间
R.T→﹣70℃约60min
提篮
温度范围
﹣65 ~ 150℃
温度波动度
≤1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170﹣1996表示)
温度偏差
≤±2℃(﹣65℃ ~ ﹢150℃)
转换时间
≤5S
温度回复时间
≤5min
结构
外箱材质
冷轧钢板表面喷塑(象牙白)
内箱材质
#304镜面不锈钢(1.2mm)
隔热材料
非危废类环保型玻璃纤维保温层
制冷
制冷方式
风冷或水冷
制冷机
进口压缩机
温度传感器
铠装铂电阻
控制器
西门子PLC模块(含宏展环境试验设备嵌入式PLC控制软件PlatinumV1.0)+7英寸彩色液晶触摸控制屏(含宏展环境试验设备嵌入式触摸屏控制软件PlatinumV1.0)。
数据存储于功能接口
USB数据接口:设备带有USB存储接口,存储信息包括试验时间、试验目标值和试验实测值等主要运行参数,存储格式为.csv格式,此文件可由宏展公司上位机通讯软件直接生产曲线,该USB接口不支持热插拔及下载功能,如要用U盘存储试验数据,需一直让U盘处于正常联接状态。TCP/IP通讯接口:试验箱带有RJ45数据接口,后期如购买上位机通讯功能后(含宏展环境试验设备嵌入式计算机软件PlatinumV1.0),即可联接此接口以实现计算机管理功能,单台试验箱支持5台计算机同时访问、上位机软件*大可管理32台试验箱。
装机功率(KVA)
19.7
32
36
电源
AC380V 50Hz三相四线制+接地线
标配配置
产品使用说明书、试验报告1份、合格证及质量保证书各1份、隔板2层、带脚轮
满足标准
GJB150.3、GJB150.4、GJB150.5、GB/T2423.1、GB/T2423.2
详细参数以对应产品规格书为准
三箱式冷热冲击试验箱
TSL-80A
TSL-150A
TSL-225A
TSL-408A
TSU-80W
TSU-150W
TSU-225W
TSU-408W
TSS-80W
TSS-150W
TSS-225W
TSS-408W
内部尺寸(mm)
W
500
600
750
850
H
400
D
800
外形尺寸(mm)
1460
1560
1710
1880
1840
1940
2040
1500
1600
1700
1900
试验方式
气动风门切换2温室或3温室方式
性能
预热温度范围
升温速率
﹢60→+200℃≤20分钟
预冷温度范围
﹣78-0℃
降温速率
﹢20→-75℃≤80分钟
试验室
±2℃
TSL:(+60→+125)℃→(-40--10)℃
TSU:(+60~+150)℃~(-55~-10)℃
TSS:(+60~+150)℃~(-65~-10)℃
温度恢复时间
5分钟以内
试样搁架承载能力(kg)
30
试样重量(kg)
7.5
10
注:外形尺寸(不包括外形凸起部分);升温速率和降温速率(温度上升和温度下降均为试验箱单独运转时的性能);温度恢复条件(室温为+25℃和循环水温为+25℃,试样是塑料封装集成电路)
冷热冲击试验箱 Hot And Cold Shock Test Chamber
---- 不符合此规格◎符合此规格★可配增加此功能※可配增加LN2功能
试验规范
驻留温度(℃)(exposure temp.)
驻留温度时间(Min)(exposure time)
覆归时间(recovery time)
周期或次数
试验起始点
备注
适用机台型号TS-(80/150/225/408)
高温
室温
低温
高温/低温
S
U
L
MIL-STD-883E(Method No.1010.7)
+85
+10
----
-55
0
≧10min≦15min
含驻留时间&转换时间≦15min
*少10次
低温或高温
Temperature Cycling(转换时间<1min)实验过程若中断超过总实验之1/10次则实验须重做
◎
+125
+15
-10
+150
-65
.
MIL-STD-202F(Method No.107G)
+83
+3
-25
28g以下15~30 Min28~136g30Min136g~1.36Kg60Min1.36~13.6Kg120Min13.6~136Kg240Min
Max.5 Min
5 Min 以内
5 cycle2550100
Transfer time不超过5 min
-3
-5
JIS C 0025IEC 68-2-14GB 2423.22
+70
+100
±2
-40
±3±3±3±3±3±3
3hr2hr1hr30min或无定义则以3hr定义
手动转移时间2~3Min
为驻留时间之1/10
5 cycle除非有其它规格
AutoTransfer time不超过30 sec小试件Transfer time不超过10 sec
★
IPC 2.6.7
+0
15 Min
2 Min 以内
100 cycle
高温(试验结束点在高温)
Transfer time不超过2 min
-0
+5
+105
.
IPC 2.6.6
30 Min
10-15Min
5 cycle
BellcoreGR-1221-CORE
500 cycleOR1000cycle
+80
JESD22A104-A
≦15min
抽10次可接受;1000次合格
TemperatureCycling(转换时间<1min)实验过程若中断超过总实验之1/10次则实验须重做
两箱式高低温冲击试验箱,CTS-50
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