昊量光电便携式FLIM荧光寿命测量TDC

便携式FLIM荧光寿命测量tdc

昊量光电新推出紧凑型，USB驱动的便携式FLIM荧光寿命测量TDC，专为荧光寿命成像和光谱测量而设计。它的尺寸小重量轻，允许极大的便携性，可以通过USB供电连接使其能够在便携式设置甚至户外使用。TDC卡上的I/O设计是可定制的，一些通道可以配置为荧光采样或成像重建信号，如像素，线和帧时钟。此外，信道可用于与其他正在使用的设备同步数据采集，如声光偏转器，压电位移台和其他一般实验室设备。此FLIM荧光寿命测量TDC还提供强大的数据重建和分析软件。

便携式FLIM荧光寿命测量TDC主要技术指标：

• < 300 ps单发精度(σ/√2)

• 24或48 ps的蕞小时间bin分辨率

• 1.5 ns死区

• 80MHz蕞大激光同步速率

• < 0.5% RMS微分非线性

• 传输速率高达100 M计数/秒

• 每个输入通道的峰值计数率高达640 Mcounts/s

• 26个通道

• 11 SMA单端输入LVTTL 50Ohm

• 1 SMA激光触发(同步)LVTTL 50Ohm信号

• 1 SMA激光触发输出(同步输出)LVTTL 50Ohm用于调制外部脉冲激光源

• 13 USB-C LVDS输入/输出可配置

紧凑便携，USB供电                                          荧光寿命成像与光谱，同步各类外围仪器

便携式FLIM荧光寿命测量TDC软件特点：

• 实时成像和荧光衰减直方图数据重建

• 实时FLIM相量图分析

• 人工智能驱动的相量图分析技术

• 用于数据采集和重构的软件API (Rust, C, c++， c#， Python, node.js， .NET)

• MATLAB, Python, HDF5， .SVG flim相量和成像数据导出

• 云数据存储

• 通过社交媒体，即时消息，聊天和电子邮件分享结果

• 支持平台:Windows、Linux

便携式FLIM荧光寿命测量TDC主要应用：

荧光寿命成像——相量分析法

当引入相量分析方法时，可以很容易地处理FLIM图像中包含的信息。这种方法允许寿命分布的图形表示(相量图)，使FLIM图像更快地读取。事实上，FLIM相量图的解释很简单，FLIM与相量的组合使研究人员能够轻松地在同一样本中分离不同的寿命种群。

荧光相关光谱（FCS）

荧光相关光谱(FCS)是一种研究和定量分子动力学的技术。顾名思义，FCS是基于荧光分子在观测量内外扩散时荧光波动的时间相关性分析。它被认为是一种单分子技术，因为荧光分子在探测体积内外的连续波动可以用来确定样品中一个或几个物种的单个性质。

荧光共振能量转移（FRET）

近红外光谱（NIRS）

此外，我们还提供匹配的单光子探测器，皮秒半导体激光器，CFD等系统基础组件

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