点击提交代表您同意《用户服务协议》 和 《隐私政策》
您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
镓的工业应用还很原始,尽管它独特的性能可能会应用于很多方面。液态镓的宽温度范围以及它很低的蒸汽压使它可以用于高温温度计和高温压力计。镓化合物,尤其是砷化镓在电子工业已经引起了越来越多的注意。没有能利用的精确的世界镓产量数据,但是临近地区的产量只有20吨/年。
TESCAN AMBER 是 TESCAN 第四代 FIB-SEM 的新成员,是一款超高分辨双束 FIB-SEM 系统,它可以提供无与伦比的图像质量,具有强大的扩展分析能力,并能以极佳的精度、效率完成复杂的纳米加工和操作,可满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。
新一代镜筒内电子加速、减速技术,保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力
首次配置的静电-电磁复合物镜,物镜无磁场外泄,实现磁性样品高分辨成像及分析
配置4个新一代探测器,可实现9种图像观测,对样品信息的采集更加全面
配置大型样品室,有超过20个扩展接口,为原位观测、分析创造了良好的工作环境
可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件,并独家实现与TOF-SIMS、Raman联用
新一代操作软件和自动功能,FIB镜筒具有全自动的离子镜筒对中,极大简化了操作
新一代 Orage™ Ga FIB镜筒,适用于各类具有挑战性的纳米加工任务 TESCAN AMBER 配置了zei新的BrightBeam™镜筒,实现了无磁场超高分辨成像,可以zei大化的实现各种分析,包括磁性样品的分析。新型镜筒中的电子光路设计增强了低能量电子成像分辨率,特别适合对电子束敏感样品和不导电样品的分析。创新的Orage™ Ga FIB镜筒配有zei先进的离子枪和离子光学镜筒,使得TESCAN AMBER成为了世界顶级的样品制备和纳米图形成型的仪器。 TESCAN AMBER 束流可达100nA,具有超快速的加工能力,新颖的SmartMill高速切割功能,使得加工效率提升一倍。TESCAN AMBER离子能量zei低可达500eV,拥有更优秀的低压样品制备能力,可以快速制备无损超薄TEM样品。 可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件,并独家实现与TOF-SIMS、Raman一体化。新一代OptiGIS™气体注入系统 TESCAN AMBER 可配置zei新的多种探测器,包括透镜内Axial detector 以及 Multidetector,可选择不同角度和不同能量来收集信号,体现更多种类的信息,同时获得更好的表面灵敏度和对比度。TESCAN AMBER 有两种气体注入系统可供选择,标准的5针-GIS和新一代OptiGIS单针-GIS,单针的OptiGIS支持通过更换气罐来更换化学气体,避免了以往多针气体注入系统样品仓内占用空间大的问题。 两种气体注入系统均可以选择多种沉积气体,其中W、Pt、C等用于导电材料沉积,SiOx 用于绝缘材料沉积,XeF2、H2O等用于增强刻蚀,或其它定制气体。新一代Essence™操作软件,更简单、高效的操作平台 TESCAN AMBER 可配置zei新的多种探测器新操作软件极大简化了用户界面,能快速访问各主要功能,减少了繁琐的下单菜单操作,并优化了操作流程向导,易于学习,兼容多用户需求,可根据工作需要定制操作界面。 新颖的样品室内3D空间位置和移动轨迹模拟功能,可避免误操作,造成碰撞。 样品室内的3D空间位置和移动轨迹模拟集成多项创新性设计,拓展新应用领域的利器
TESCAN AMBER 可配置最新的多种探测器,集成了BrightBeam™ SEM镜筒、Orage™ Ga-FIB镜筒、OptiGIS气体注入系统等多项创新设计,在高分辨能力、原位应用扩展能力和分析扩展能力方面达到了业内顶级水平,此外新一代操作流程和软件也给使用者带来更舒适、高效的体验。
* TESCAN AMBER 是 S8000G 升级机型。
TESCAN AMBER 镓离子型双束扫描电镜 镜筒内电子加速,TESCAN AMBER
TESCAN AMBER 镓离子型双束扫描电镜 镜筒内电子加速信息由TESCAN 泰思肯(中国)为您提供,如您想了解更多关于TESCAN AMBER 镓离子型双束扫描电镜 镜筒内电子加速报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统
泰思肯 TESCAN SOLARIS 超高分辨双束扫描电镜
泰思肯 TESCAN AMBER X 高分辨氙离子源双束扫描电镜
泰思肯 TESCAN SOLARIS X 氙等离子源双束FIB系统
TESCAN AMBER 镓离子型双束扫描电镜
直播 | TESCAN FIB-SEM 提高 APT 样品制备精确度
应用案例 | 显微CT电池孔隙分析无损检测方案
泰思肯 TESCAN MIRA 场发射扫描电镜
S8000G型镓离子聚焦离子束双束扫描电镜
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号