第二场显微分析应用系列报告旨在分享氙离子FIB的特点及各个领域的应用,尤其是半导体行业。先来回顾下清华大学徐晓明老师的精彩内容。完美实现原位的微区综合分析表征TESCAN 是全球首家将等离子 FIB 集成到扫描电子显微镜(SEM)中的制造商,早在2011年就推出了FERA,并于2019年底推出了新一代的 AMBER X 和 SOLARIS X。其中 AMBER X 将可用于样品精确加工的氙等离子体 FIB 和无漏磁的超高分辨成像的 SEM完美地
主题:3D FIB/SEM Data Acquisition and Processing Solutions for Life Sciences演讲人:Martin SlamaMartin Sláma是材料科学和生命科学的FIB- SEM产品经理,有多年使用TESCAN等离子体FIB和镓离子 FIB- SEM进行TEM样品制备的经验。在加入TESCAN公司之前,Martin曾在布尔诺理工大学、中欧技术研究所和阿斯顿大学从事新材料开发和表征的工作。时间段1
2019年8月5日~ 8日,“M&M 2019”(M&M, Microscopy and Microanalysis)将在美国俄勒冈州波特兰市召开,TESCAN作为电子显微镜行业的全球供应商,应邀参加了本次盛会。M&M是由美国显微学会MSA(Microscopy Society of America)主办的全球最大的显微技术和分析科学大会,是一年一度的盛会。本次大会上,TESCAN将携多款扫描电镜和聚焦离子束系统(S9000X,S8000G,VEGA3)亮
近日,昆士兰科技大学(Queensland University of Technology)很高兴地宣布,他们刚刚订购了一台TESCAN S8000X氙(Xe)等离子源FIB-SEM系统。TESCAN S8000X是TESCAN最新推出的全新一代超高分辨超高通量的氙(Xe)等离子源 FIB 系统,具有无与伦比的多功能性和优异的超高分辨成像及高速纳米加工功能,它将成为昆士兰科技大学的CARF平台(Central Analytical Research Fa