TESCAN UniTOM高分辨率三维 X 射线显微镜 失效分析

工业CT是工业用计算机断层成像技术的简称，它能在对检测物体无损伤条件下，以二维断层图像或三维立体图像的形式，清晰、准确、直观地展示被检测物体的内部结构、组成、材质及缺损状况，被誉为当今最佳无损检测和无损评估技术。工业CT技术涉及了核物理学、微电子学、光电子技术、仪器仪表、精密机械与控制、计算机图像处理与模式识别等多学科领域，是一个技术密集型的高科技产品。

TESCAN UniTOM XL

这款高通量微米级X射线显微镜具有超快的分析速度，适用于各类样品的无损分析，并提供了更灵活的研究方式。

TESCAN UniTOM XL  为材料研究、失效分析和质量控制等领域提供高效且非破坏性的三维成像功能，该系统配置了高功率的发射源、高效的探测器和软件，可以提供最高效的工作效率和图像效果，时间分辨率可以达到10秒以下。

主要优势

※ 原位和动态成像的 X射线显微镜

UniTOM 是一款配置灵活的高分辨 X 射线显微镜，可根据用户的需求组合功能模块，最大限度的提高图像质量、分辨率和分析速度。
※ 感兴趣区域的直观观测
可在概览图上选择感兴趣区域进行实时缩放，获得孔隙结构和矿物的细节信息。
※ 亚微米级分辨率
UniTOM 可以获得 3um 的真实空间分辨率，并且适用于多种类型和尺寸的样品，可分析的样品最大直径为 50 cm, 最大高度115 cm。
※ 模块化设置
模块化设计，硬件模块（如可附加的X射线源或探测器）可以轻松集成到系统中，方便用户进行硬件升级或更换单个硬件，进而延长系统的使用寿命。

模块化灵活配置

UniTOM XL 模块化设计有助于用户可以随时添加、升级和拓展配件，尽可能减少受到系统自身性能的限制影响，系统中提供的“future-proof”平台能够帮助客户适应未来在发射源或探测器技术方面的创新发展。

Acquila软件

Acquila是一个用于断层图像采集和3维重构(GPU优化)的模块化软件，可以最大限度为集成设备后的复杂实验提供协助。Acquila软件能够运行在标准的、自动化的或定制的微型X射线显微镜上，并实现图像采集、重建和外围实验设备(现场设备)之间的无缝集成。

TESCAN UniTOM高分辨率三维 X 射线显微镜 失效分析信息由TESCAN 泰思肯（中国）为您提供，如您想了解更多关于TESCAN UniTOM高分辨率三维 X 射线显微镜 失效分析报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。