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X射线衍射仪主要是用于测定晶体结构,根据晶体结构来判断矿物种类,根据衍射峰的强弱来判断物相含量的高低。多晶X射线衍射仪也称为粉末衍射仪,被测对象通常为粉末、多晶体金属或高聚物等块体材料。
仪器简介: 组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构,通过对各个单元的不同组合,可以进行各种测试。技术参数:
1. X射线发生器功率为3KW2. 测角仪为水平测角仪3. 测角仪最小步进为1/10000度4. 测角仪配程序式可变狭缝5. 高反射效率的石墨单色器6. CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学独有)7. 小角散射测试组件8. 多用途薄膜测试组件9. 微区测试组件10. In-Plane测试组件(理学独有)11. 高速探测器D/teX-Ultra12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC13. 分析软件包括:XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等
主要特点:
组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品
主要的应用有:
1. 粉末样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld结构分析
5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度
6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7. 小角散射与纳米材料粒径分布
8. 微区样品的分析
理学 Ultima IV 全自动多功能X射线衍射仪 晶体结构测定,Ultima IV
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