ZSX Primus IV具有创新的光学上述配置。由于样品室的维护,再也不用担心被污染的光束路径或停机时间。光学元件以上的几何结构消除了清洁问题并延长了使用时间。ZSX Primus IV WDXRF光谱仪具有卓越的性能和分析最复杂样品的灵活性,采用30微米的管子,这是业界最薄的终端窗口管,可提供出色的轻元素(低Z)检测限。
映射和多点XRF分析
结合最先进的测绘包装来检测均匀性和包裹体,ZSX Primus IV可以对样品进行简单详细的XRF光谱测量研究,以提供其他分析方法不易获得的分析见解。可用的多点分析还有助于消除不均匀材料中的采样误差。