您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
原子力显微镜AFM,MicroNano AFM-II
原子力显微镜AFM信息由上海卓伦微纳米设备有限公司为您提供,如您想了解更多关于原子力显微镜AFM报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
GB/T 29190-2012 扫描探针显微镜漂移速率测量方法
GB/T 26113-2010 微机电系统(MEMS)技术 微几何量评定总则
GB/T 31227-2014 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法
JJF 1351-2012 扫描探针显微镜校准规范
GB/T 28872-2012 活细胞样品纳米结构的磁驱动轻敲模式原子力显微镜检测方法
GB/T 27760-2011 利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
DB44/T 1328-2014 蓝宝石图形化衬底片测试技术规范
KS D 2714-2016(2021) 扫描探针显微镜-侧向力显微镜法
SJ/T 11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法
GB/T 29557-2013 表面化学分析 深度剖析 溅射深度测量
JB/T 6841-1993 电子光学仪器术语
GB/T 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法
GB/T 31370.2-2015 平板显示器(FPD)彩色滤光片测试方法 第2部分:耐光性
GB/T 30110-2013 空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法
GB/T 26111-2010 微机电系统(MEMS)技术 术语
DB44/T 1216-2013 利用扫描电子显微术和X射线能谱法表征石墨烯的特性
GOST R 8.635-2007 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.校准方法
GOST 8.593-2009 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.鉴定方法
2024年第八届色谱网络研讨会
质谱新纪元 探索组学无限可能—2024组学技术前沿创新高峰论坛
电子电器玩具合规性分析的难点及X荧光分析应对方案
生物药工艺开发与优化
MicroNano D3000型扫描探针显微镜
MicroNano AFM-III型扫描探针显微镜/原子力
MicroNano AFM-II型扫描探针显微镜/原子力
MicroNano Ac-II型扫描探针声学显微镜
SThM-II型扫描热学显微镜
磁力显微镜
扫描探针显微镜通用平台二次开发系统
压电响应力显微镜
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号