高分辨率波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器

400X300高分辨率、500um高动态范围、高性价比、同时检测波前与M^2波前传感器！

关键词：波前传感器、波前分析仪、波前像差仪、传感器、波前测试仪、波前探测器、激光波前分析仪、哈特曼波前分析仪、虹膜定位、哈特曼波前传感器、波前象差、高分辨率波前分析仪、波前测量仪、激光光束及波前分析仪、夏克 哈特曼、镜头MTF

法国Phasics公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！PHASICS波前探测器配套的软件界面友好，可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。

法国PHASICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求，为客户推荐合适的SID4波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。

图1 波前校正前与校正后对比

PHASICS波前探测器依据其四波横向剪切干涉技术，对哈特曼掩模技术进行了大的升级、改进。PHASICS波前传感器将400X300的超高分辨率和500um的超大动态范围完美结合在了一起。可以满足不同的客户的应用需求，可对激光光束进行光强、位相、PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差、M^2等进行实时、简便、快速的测量。

第1部 产品介绍

SID4 UV-HR高分辨紫外波前传感器

PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围扩展到190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器,适用于光学元件测量（例如印刷、半导体等等）和表面检测（半导体晶片检测等）。

特点：

高分辨率（250x250）

通光孔径大（8.0mmx8.0mm）

覆盖紫外光谱

灵敏度高（0.5um）

优化信噪比

图2 SID4-UV波前分析仪

SID4 波前传感器

可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、强度分布，波前像差，激光的M2，泽尼克参数等进行实时的测量及参数输出。

特点：

波长范围：400-1100nm

分辨率高（160x120）

消色差

测量稳定性高

对震动不敏感

结构紧凑，体积小

可用笔记本电脑控制

图3 SID4位相检测

SID4-HR 波前相差仪

可用于检测各种透镜，光学系统的检测，可以对透镜、光学系统的进行实时的PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差测量及参数输出。相对于传统的透镜检测设备像：传函仪、干涉仪，具有操作简便，测量精度高，参数输出方便等优点，正在被越来越多的客户推崇。

特点：

波长范围：400-1100nm

高性能的相机，信噪比高

实时测量，立即给出整个物体表面的信息（120000个测量点）

曝光时间极短,保证动态物体测量

操作简单

图4 SID4-HR

图5 SID4-HR传递函数检测

SID4 NIR 波前分析仪

主要针对1550 nm（1.5um-1.6um）激光的检测，具有分辨率高高灵敏度、高动态范围、操作简便等独特的优势。可用于光学测量，SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。

特点：

高分辨率（160x120）

快速测量

性价比高

测量

对振动不敏感

图6 SID4 NIR激光波前检测

SID4 DWIR 波前仪

具有宽波段测量的特点。可以实时的检测3-5um和8-14um的波前位相，强度分布等响应的波前信息。可以很好的满足红外波段客户的波前检测需求。

特点：

光学测量：SID4 DWIR是测量红外物体特性（热成像和安全视觉）或红外透镜（CO2激光器）的理想工具，输出结果包括MTF，PSF，像差，表面质量和透镜焦距。

光束测量：（CO2激光器，红外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数：像差，M2，光强分布，光束特性等

高分辨率（96x72）

可实现测量

可覆盖中红外和远红外波段 大数值孔径测量，无需额外中转透镜

快速测量 对振动不敏感

可实现离轴测量

性价比高

图7SID4 DWIR

SID4产品型号参数汇总