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当前位置:分析测试百科网 仪器谱 高低温冲击试验箱/冷热冲击试验箱 芯片模块三箱冷热冲击试验设备

芯片模块三箱冷热冲击试验设备

芯片模块三箱冷热冲击试验设备封面图
芯片模块三箱冷热冲击试验设备
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参考价:¥3.00万~6.89万
品牌与制造商:广皓天 产地:中国 型号:TSE-100F-3P 官方样本下载:点我免费下载样本 数据更新时间:2026-09-08
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产品官方概述

芯片模块三箱冷热冲击试验设备采用三区独立结构,样品固定静置无机械震动,依靠风门气流切换完成极速冷热冲击,规避精密试样二次损伤。设备温控精度高、切换速度快、温度恢复迅速,参数稳定合规,符合国标与军标测试标准。配备多重安全防护,支持自动化循环试验,广泛用于半导体、汽车电子、新能源产品温度可靠性检测。参考价格:3.00万—6.89万元人民币(统计时间:2026年9月,不同配置,具体以官方报价为准)。

以下内容综合自广皓天官方技术规格及公开资料信息
官方技术参数
产地与供应商:国产 生产商 价格范围:5万-10万 高温室温度范围:+60℃→+150℃
低温室温度范围:-60℃→-10℃ 温度冲击范围: 60℃→-150℃→-40℃--10℃ 温度恢复时间(控制点):≤5min
转换时间:≤10s 高温试验时间:+60℃→150℃≤25min 低温试验时间: +20℃→-60℃≤60min
温度波动度:±0.5℃ 温度偏差:±2.0℃