StellarNet 反射透射光谱测试系统

StellarNet 反射透射光谱测试系统介绍：

反射与透射光谱是功能优异的光学测量技术，可用于表征薄膜、涂层、半导体材料及工程表面。通过分析光在样品表面的反射行为或是穿过样品的透射行为，科研人员与生产厂商能够在不接触、不损伤样品的前提下，评估薄膜厚度、光学参数、涂层性能以及材料各项特性。

StellarNet 薄膜计量检测系统集成高性能光谱仪、各类光学附件以及高级分析软件，可实现快速无损检测，适用于光学涂层表征、半导体工艺监控、光伏材料、显示技术以及前沿材料科学研究。

可对薄膜、滤光片、涂层、光纤、透镜以及几乎所有光学元件，测试百分透射率、光密度 (OD)、吸光度与反射率。

光学计量系统由微型光谱仪、光源以及计量附件（反射探头或透射夹具等）组成。系统支持 190‑2500nm 光谱测量波段。分辨率优于 1nm，具备科研级高稳定光学性能与测量重复性。配套 SpectraWiz 移动端应用，同时支持 SMART‑Control 全新操作交互界面。

光谱仪是检测滤光片、薄膜及光学元件光学性能常用设备。可快速对几乎任意光学元件完成百分透射率、光密度（OD）、吸光度、反射率测试，适用于研发实验、质量检测、生产管控，或是用于设备系统性能分析。

将 StellarNet 光纤光谱仪搭配反射探头与光纤光源，采集样品镜面反射产生的正弦干涉条纹，即可计算得到薄膜厚度。可根据薄膜检测或光学测试需求选用不同型号 StellarNet 光谱仪，仪器测量波段覆盖 190‑2300nm。可选配双通道架构、宽波段探测器或者高分辨率光学组件，满足各类光学测试场景。

光纤样品探头由 SL1 钨‑氪灯光源提供照明（其他光源选型见下文）。测试固体样品颜色时，可采用 IC2 积分球替代光纤反射探头，提升测量一致性。IC2 积分球同时可作为余弦接收器，优化辐照度测量结果。测试固体样品时，需要配备 RS50 白色反射标准件，建立测量参考基准。

StellarNet 反射透射光谱测试系统选择标准：

系统搭建示意图：

滤光片透射测量系统（200‑1700nm），配置 SL5 紫外‑可见氘卤灯光源、透射夹具、传输光纤、Y 型分光光纤、BLACK‑Comet + DWARF‑Star DUAL‑DSR 双通道光谱仪系统

镜面反射测量系统（280‑900nm），配置 SL1‑Filter 带滤光片卤钨灯光源、R600 反射探头、BLACK‑Comet 光谱仪

可见光滤光片透射测量系统（220‑1100nm），配置 SL1‑Filter 卤钨灯光源、透射夹具、F600 传输光纤

StellarNet 反射透射光谱测试系统信息由轲润实验器材（上海）有限公司为您提供，如您想了解更多关于StellarNet 反射透射光谱测试系统报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。