采集塑料PC PEEK PCTFE PTFE高光谱数据

一、检测目的和依据

1、利用900-1700nm高精度高光谱成像设备，批量采集PC、PEEK、PCTFE、PTFE高性能塑料的全域光谱数据，覆盖四类材料核心特征波段。

2、采用无损光谱检测方式，精准提取四类工程塑料的专属光谱曲线，区分不同材质的光谱特征差异。

3、结合机器学习、深度学习算法完成光谱数据建模训练，实现PC、PEEK、PCTFE、PTFE材料成分无损智能识别，可为工业质检、材质分拣、科研实验提供成熟落地技术方案。

二、样品类别及数量

样本：测试实验客户来样样品 数量4片

三、检测设备和方式

检测设备

1、900-1700nm高光谱相机

2、光学暗箱（含350-2500nm光源，放样移动平台）

3、黑色托盘（低反射率背景）

4、辅助材料：标签（用于标记塑料PC、PEEK、PCTFE、PTFE样品编号，方便对塑料PC、PEEK、PCTFE、PTFE光谱数据对应）

采集方式

1、样品摆放规则：将塑料PC、PEEK、PCTFE、PTFE样品按如图所示摆放

2、数据采集模式：使用反射模式采集塑料PC、PEEK、PCTFE、PTFE样品900-1700nm反射率数据。

3、设备调参：

调节相机高度，使相机视场可以覆盖所有样品

调节镜头光圈到最大：F1.4

调节镜头焦距，使样品图像最清晰

曝光时间调整到合适的值，避免采集到的样品数据过曝

四、采集结果

1、数据提供

提供数据格式，每个样品数据包含如下6个格式文件：

a、样本900-1700nm原始数据（包含 .dat、.hdr格式）

b、样本900-1700nm反射率数据（包含 .dat、.hdr格式）

c、样本900-1700nm高光谱图像（.png格式）

d、提供样品摆放实拍图（.jpg格式）

2、数据展示

采集参考Q/EX C******准

采集参考Q/EX C******/strong>标准