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StellarNet StellarSCOPE显微光谱测量系统
参考价：￥11.55万
品牌：StellarNet 产地：美国 型号：StellarSCOPE 样本：来电或留言获取样本
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参数
| 产地类别：进口 | 价格范围：10万-20万 |
| 具体样品类型 | 半导体晶圆、光学薄膜、材料微区、荧光样品、拉曼样品、色度标准样品、薄膜涂层、微纳结构样品 |
| 测量方法/测量方式 | 显微拉曼光谱、显微荧光光谱、薄膜计量（厚度/折射率）、CIELAB色度检测、微区透射/反射光谱、图像与视频同步采集、延时录像 |
| 物镜配置 | 4×、10×、40× 多档物镜（可选其他倍数，区间4×-100×） |
| 相机规格 | 130万像素CMOS相机（分辨率范围：1280×1024至2048×1536像素） |
| 光开关 | 内置多通道光开关（支持至少2-4路光路切换） |
| 光学耦合接口 | SMA 905标准光纤耦合接口（兼容StellarNet全系列光谱仪） |
| 显微镜平台 | 奥林巴斯研究级显微镜（正置/倒置可选，支持明场/暗场/微分干涉） |
| 光谱范围 | 取决于用户自有StellarNet光谱仪，典型区间165-1100 nm（紫外-可见-近红外） |
| 光谱分辨率 | 取决于光谱仪配置，典型0.1-5 nm（可调狭缝或光栅） |
| 微区光斑尺寸 | 根据物镜数值孔径，光斑直径可小至1-50 μm（40×物镜时约1-5 μm） |
| 检测速度 | 单点光谱采集毫秒级至秒级（积分时间1 ms-60 s可调） |
| 面扫描测绘速度 | 自动映射版本（StellarSCOPE-AM）全自动面扫描，速度取决于步进电机和积分时间，典型1-10 min/cm²（步长1-100 μm） |
| 重复性 | 波长重复性≤±0.1 nm（典型），强度重复性≤±1% RSD |
| 稳定性 | 长时间连续测量漂移≤0.5%（1小时），温度稳定性0-40°C |
| 检出限 | 拉曼/荧光检出限优于10⁻⁶ mol/L（典型），取决于光谱仪信噪比（≥1000:1） |
| 测量精度 | 薄膜厚度测量精度±2 nm（典型），色度测量ΔE≤0.5 |
| 可配置样品数量 | 单样品台或可选多工位样品台（最多6个样品位），自动映射可定制XY行程（范围50×50 mm至300×300 mm） |
| 可选配件 | 偏振附件、暗场聚光镜、低温恒温器、热台（-190°C至300°C）、光纤探针、微区聚焦模块、自动对焦模块 |
| 扩展模块 | 拉曼增强模块（SERS）、荧光寿命模块、时间分辨模块、多光谱成像模块、自动聚焦模块、XYZ电动载物台 |
| 软件功能 | StellarPro软件支持自动映射、全自动面扫描、实时图像/视频叠加、光谱库匹配、2D/3D数据绘图、批量数据处理 |
| 独家技术 | 模块化耦合设计（用户自有光谱仪即插即用）、光开关与CMOS相机同步触发、微区图像与光谱同时采集、自动映射版本无需改动机身 |
| 特殊功能 | 延迟录像（长时间动态监测）、CIELAB色度实时计算、薄膜椭圆参数提取、微区拉曼成像（逐点扫描生成化学分布图） |
| 光源兼容性 | 可耦合卤素灯、氘灯、LED、激光（532/633/785 nm等）多种光源，SMA接口 |
| 环境要求 | 工作温度15-35°C，湿度<85%RH（无凝结），防震光学平台推荐 |
| 尺寸与重量 | 显微镜系统约500×400×600 mm，重量约25-40 kg（不含光谱仪和电脑） |
| 电源 | 100-240V AC，50/60 Hz，功耗≤100W（不含光谱仪） |
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