磁光克尔显微镜（TTT‑02‑Kerr Microscope）

托托科技磁光克尔显微镜（TTT‑02‑Kerr Microscope）是面向磁学、自旋电子学的综合测试设备，基于磁光克尔效应开展磁畴观测，显微磁畴空间分辨率优于 0.5 μm，磁光克尔角分辨率优于 0.1 毫度，支持极向、纵向、横向三种克尔效应测量，可采集平面内数百万点的磁畴动态信息，可搭配探针台完成磁、光、电同步观测。

磁光克尔显微镜（TTT‑02‑Kerr Microscope）搭载智能照明系统，支持线偏振、圆偏振光，具备相差畸变矫正与电动聚焦功能；电磁铁系统可快速切换面内、垂直磁场，垂直磁场最高 1.4 T@1 cm 磁极间隙，面内磁场最高 1.0 T@1 cm 磁极间隙，物镜视场内磁场不均匀性小于 2%，采用空气散热；相机拥有超动态范围，量子效率大于 80%

配置 XYZ 三轴样品调节支架，可选配直流、高频探针，兼容吉时利系列电表，支持直流、脉冲电流等激励下的同步测试。可拓展低温模块，温度覆盖 77 K‑450 K（液氮）、4.2 K‑450 K（液氦）、10 K‑450 K（闭循环）。软件集成光、磁、电、温度多变量控制，可记录磁畴图像、输出磁滞回线数据。

主要用于磁性薄膜磁畴翻转观测、斯格明子磁泡表征、二维磁性材料测试、电流驱动磁畴调控、DMI 有效场与磁畴运动速度测试等，适配自旋电子、磁存储等科研实验场景。设备配置气浮隔振光学平台，降低外界振动对成像的干扰。

磁光克尔显微镜（TTT‑02‑Kerr Microscope）信息由托托科技（苏州）有限公司为您提供，如您想了解更多关于磁光克尔显微镜（TTT‑02‑Kerr Microscope）报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。