电感耦合等离子体发射光谱仪ICP-OES

电感耦合等离子体发射光谱仪

电感耦合等离子体发射光谱仪ICP-OESAvio™ 200 系统能处理难度最高的、未经稀释的高基体样品，为ICP 带来全新的性能及灵活性。

而且，特别的硬件特性与业界最直观易用的软件相结合，使多元素测量变得与单元素分析一样简单。

作为市场上最小巧的 ICP，Avio 200 可通过以下性能，提供高效的操作、可靠的数据和较低的拥有成本：

• 所有 ICP 中较低的氩气消耗

• 最快的 ICP 启动（从关机状态启动，光谱仪在短短几分钟内即可准备就绪）

• 对所有适用的元素都具有出色的灵敏度与分辨率

• 具有双向观测技术的最宽线性范围

性能可靠、功能*、经济实惠、Avio 200 具备您所寻求的 ICP所具有的一切。

较低的运行成本

电感耦合等离子体发射光谱仪ICP-OES借助获得 Flat Plate™ (平板) 等离子体技术，Avio 仅需消耗其他系统一半的氩气量，即可生成强健、耐基体的等离子体，同时赋予您：

• 所有 ICP 中较低的操作成本

• 无需再进行与传统螺旋负载线圈有关的冷却和维护，提供出色的运行时间和生产力

另外，为了提高效率，可令您从关机状态启动，在短短几分钟内即可进行分析，因而您大可在仪器不使用时随意关掉。

*的双向观测功能

与提供轴向和径向观测而牺牲性能的同步垂直双向观测 ICP 系统不同，Avio 200 系统获得双向观测功能，可测量所有波长，不会造成光或灵敏度的损失。即使是波长大于 500 纳米或低

于 200 纳米的元素也可以测量，即便是在 ppb 的含量水平。该 Avio 系统特别的双向观测设计也提供了可扩展的线性动态范围，确保实现：

• 样品制备和稀释最小化

• 高、低浓度可以在同一运行中进行测量

• 更好的质量控制和更准确的结果

• 减少重复运行

集成等离子体观测相机

可简化您的开发方法，同时借助 Avio 200 系统的 PlasmaCam™技术，尽享远程监控等离子体的便利。

可帮助您：

• 实时观测等离子体

• 执行远程诊断

• 查看进样部件

革新性 PlasmaShear 系统，可实现无氩干扰消除

为了消除轴向观测的干扰，需要消除等离子体的冷尾焰。没有其他同类仪器能比 Avio 200 更有效、更可靠或更经济。

其他 ICP 消除尾焰需要消耗高达 4 升/分钟的氩气流量，Avio系统特别的 PlasmaShear™ 技术只需空气即可。无需高维护、高提取系统或锥体。

CCD 检测器，可实现准确度和精密度

借助全波长功能，Avio 200 系统的*电荷耦合器件（CCD）检测器能不断提供正确的答案。

Avio 系统的 CCD 检测器可同时测量所选谱线及其谱线附近波长范围，实时扣背景，实现出色的检测精密度。在分析过程中，它还可以同时执行背景校正测量，进一步提高准确度和灵敏度。

带有快速转换炬管底座的垂直等离子体，可实现基体灵活性

即使 ICP 正在运行，Avio 200 系统的垂直炬管无需工具也能进行简便快捷的调节，可提供更大的样品灵活性并简化维护。炬管底座的设计与众不同，具有以下特点：

• 一个可拆卸的、独立于炬管的中心管，旨在减少维护和破损的可能性

• 自动自对准，即使在拆卸后也能提供一致的深度设置

• 兼容各种雾化器和雾室，可提高灵活性

电感耦合等离子体发射光谱仪