DWARF-Star-TE 深度制冷近红外光谱仪

DWARF-Star-TE 深度制冷近红外光谱仪产品介绍：

该产品为光纤耦合式设备，拥有多款型号可选，适用于 900–1700nm 波段检测，光谱分辨率低谷值达 1.25nm。

每台 DWARF-Star 均搭载 Sensors Unlimited 品牌高性能铟镓砷（InGaAs）探测器，可选 512 像素或 1024 像素线性阵列；单个感光像素尺寸 25μm×500μm，可实现较高检测灵敏度。

探测器搭载2-Stage 双级深度半导体制冷模组（付费顶配升级），采用密封隔离探测器腔体 + 定制散热风道，可稳定降温至低于环境温度 30℃，控温精度 ±0.1℃；长积分采集下热噪声抑制 80% 以上，信噪比大幅提升，基线长期无漂移，适配科研、微量物质检测、微弱近红外信号长时间采集等高精度场景。

加固机身设计：

多款机型提供不同光栅波段与狭缝分辨率搭配方案。设备搭载全新升级电路与高速 16 位模数转换器，采集速度更快，信噪比可达 4000:1，内置 10 档电子增益可调。

可拆卸分光主机与控制电路封装于坚固金属外壳内，适用于便携式检测、工业在线流程、实验室及户外现场场景。

多台设备可菊花链级联，同步并行采集光谱数据。整机由电脑 USB 接口直接供电；DWARF-Star 标配内置半导体制冷器，配套 5V 直流电源适配器即可开启制冷功能，多数常规检测场景也可关闭制冷运行。机身自带板载存储，可保存预设校准参数、仪器配置与快照光谱数据，一键调取即时光谱图谱。

高速数据接口可直连电脑 USB 传输数据，也可升级 zAP2 模块实现 WiFi 无线操控。

DWARF-Star-TE 深度制冷近红外光谱仪型号选择：

近红外光谱仪不像普通光谱仪那样可以选择不同的狭缝，只有25um狭缝这一个选项。但是，可以通过搭配512像素或1064像素的探测器来实现不同的分辨率。用户常用的波长范围是900-1700nm，对应分辨率2.5nm。缩小波长范围到1250-1575nm,分辨率就会提高到1nm。

技术规格：

DWARF-Star 近红外光谱仪SpectraWiz 软件界面，展示近红外水吸收特征峰随时间变化的递增序列光谱

DWARF-Star-512 光谱图：二类塑料二阶导数光谱反射曲线

SpectraWiz 软件操作界面，展示膳食补充剂粉末的原始近红外反射光谱，内嵌多变量校准模型小窗口.

DWARF-Star-TE 深度制冷近红外光谱仪信息由轲润实验器材（上海）有限公司为您提供，如您想了解更多关于DWARF-Star-TE 深度制冷近红外光谱仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。