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X射线Von Hamos检测实验站
参考价：面议
品牌：创谱科技 产地：/ 型号：Von Hamos 样本：来电或留言获取样本
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产品介绍
X射线Von Ham os检测实验站主要包含: 三元分析晶体调节机构、探测器调节机构和样品调节机构，系统安装在真空腔体内,通过波长色散获得特征谱,用于研究元素的组分、价态、自旋态和配体识别等。
产品介绍 Product Introduction
主要参数 Technical Parameter
| 部件 | 序号 | 部件名称 | 技术指标 | ||
| 行程范围 | 分辨率 | 重复定位精度 | |||
| 分析晶体 调节机构 | I-1 | 摆角φi | ±135° | 0.001° | 0.002° |
| 1-2 | 倾角θi | ±10° | 0.001° | 0.002° | |
| I-3 | 竖直方向平动Zi | -30, 190mm | 0.5μm | 1μm | |
| 1-4 | 垂直光路方向平动Xi | -40, 260mm | 0.5μm | 1μm | |
| 探测器 调节机构 | I-1 | 竖直方向平动Zd | -25, 375mm | 0.5μm | 1μm |
| II-2 | 光路方向平动Yd | ±30mm | 0.5μm | 1μm | |
| II-3 | 倾角θd | ±135° | 0.001° | 0.002° | |
| 样品台部分 | II-1 | 竖直平动方向Zs | ±30mm | 0.5μm | 1μm |
| II-2 | 垂直光路方向平动Xs | ±30mm | 0.5μm | 1μm | |
| II-3 | 光路方向平动Ys | ±30mm | 0.5μm | 1μm | |
| III-4 | 摆角Rs | ±175° | 0.001° | 0.002° | |
测试数据 Test Data
X射线Von Hamos检测实验站信息由安徽创谱科技股份有限公司为您提供，如您想了解更多关于X射线Von Hamos检测实验站报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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