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透射弯晶谱仪,利用劳厄弯晶将不同能量的X射线衍射到记录面上的不同位置,同时利用X射线成像板进行探测。该谱仪具有测谱能量范围宽、光谱分辨⾼等特征,特别适用于激光与固体靶相互作用产生的特征能谱诊断。
● ⾃主弯晶器件
● ⾼能谱分辨
● 宽能谱范围
● 可切换式探测模组
● 全谱直读
● 可切换式激光准直系统
● 光学系统结构: 透射弯晶系统
● 分光器件: α-Quartz<10-11>
● 能量分辨率: 优于100eV@20keV
● 探测器类型: 可切换式IP板
● 激光器切换重复精度: ±10μm
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