XUV/EUV/VUV光谱仪

XUV/EUV光谱仪

EasyLIGHT XUV 光谱仪在极远紫外和真空紫外光谱区域通过像差校正，可实现宽波段光谱测量。其无狭缝设计，可直接对辐射源成像，省去了传统入口狭缝的繁琐调整。光谱覆盖范围为30至250 nm，适合高次谐波（HHG）及等离子体诊断等多种应用需求。采用正入射结构，easyLIGHT XUV 在安装与准直方面远优于掠入射光谱仪，操作更为简便。

模块化设计可适配多种实验布局与配置；easyLIGHT 内置狭缝支架，并配备闭环 motorized 光栅定位系统。

内置探测器可选方案包括：用于高分辨率和动态范围的XUV ccd；用于宽谱范围覆盖及门控/增强探测的MCP/cmos组件。

独有的光谱仪设计采用“光源直接成像”原理，无需狭窄入口狭缝即可实现较高的光收集效率。与传统光谱仪结构相比，进入探测器的光通量提高 20 倍，同时显著提升日常运行的稳定性与可靠性。

光谱仪的特点：

●   平场正入射光谱仪

●   无狭缝设计，光耦合效率高

●   波长范围覆盖 30–250 nm

●   同等性能上结构更紧凑

●   模块化、交钥匙解决方案

光谱仪应用领域：

●   高次谐波（HHG）光源

●   阿秒科学

●   强激光-物质相互作用

●   激光与放电等离子体光源

●   同步辐射束线表征

●   自由电子激光

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