原位测量！高分辨率纳米粒度和Zeta电位二合一测量仪

原位测量！——高分辨率纳米粒度和Zeta电位二合一测量仪

一．测量仪概述

                昊量光电新推出高分辨率纳米粒度和 Zeta 电位二合一测量仪，基于动态光散射 (DLS) 和激光多普勒电泳 (LDE) 技术，提供高分辨率、准确快速的表征能力，一台仪器即可全面分析纳米颗粒悬浮液。其独特亮点在于可选配用于外部原位测量的非接触式光纤探头，实现对定制容器、反应器内部或预灌封注射器等场景的直接无损监测，避免了分批处理，完美集成了粒度、Zeta 电位和远程测量这“三合一解决方案”；该仪器及其专用软件，广泛适用于评估制剂稳定性、研究纳米颗粒聚集、分析乳剂分散以及制药、石化、聚合物、生物胶体、颜料油墨等多种应用领域。

二．高分辨率纳米粒度和Zeta电位二合一测量仪的特点

        基于新一代动态光散射(DLS)和激光多普勒电泳(LDE)技术,可实现高分辨率、准确和快速的测量。

        ·高质量光纤激光器,精度更高

        ·快速APD探测器

        ·170°和17°测量

        ·软件相关处理机

        ·原创计算算法

                        ·用于非接触式测量的原位远程测量头。

                        ·可用于各种定制化测量,包括空间受限环境和/或恶劣环境中的测量。

                        ·创新型无氧化玻璃碳电极，易于清洁

                        ·无需使用特定耗材

                        ·与标准 10 mmx10 mm 比色皿兼容

                        ·不同材质可供选择:石英、玻璃或聚苯乙烯,与各种溶剂完全兼容

                        ·通过抑制溶剂引起的沿比色皿壁的位移，避免电渗透效应等伪影

三．高分辨率纳米粒度和Zeta电位二合一测量仪的产品参数

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关于昊量光电：

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