存储器晶圆探测自动测试设备

存储器晶圆探测自动测试设备主要应用于Nor/Nand/DDR Flash的低速CP测试，监控wafer良率，降低后道封装与测试成本。该设备最高测试速率可达400MHz/800Mbps，拥有9984 IO通道，最大可同时对1536个NOR Flash（6*I/O）进行测试。测试精度高，系统具有灵活的时序调整和高精度的DC测量单元，能够满足DUT的AC/DC参数测量和功能测试。

本设备主要应用于半导体行业，面向Memory CP测试领域，满足NOR/NAND/DRAM等存储芯片客户和第三方封测厂的测试需求。

·  高精度测量
配置有灵活的时序调整和高精度的DC测量单元，搭配诊断校准模块，可诊断设备状态、对IO通道的AC/DC进行校准，为客户提供更高的测量精度和测试可靠性。

·  友好交互界面
自主研发UI控制界面，可实现存储器芯片的动态功能测试，同时为客户提供操作简单、界面友好的用户体验。

·  高并行测试效率
设计有针对存储器CP测试系统PMU单元的Per Pin架构，可实现对整机配置的9984个IO通道的并行测试，帮助用户加快测试时间，提升测试效率，降低综合测试成本。

·  可定制测试流程
配置可定制化系统控制模块，支持可定制的测试流程，即支持用户自定义存储芯片的功能和逻辑测试项、支持开放接口由用户开发外设控制的测试项，最终实现用户根据测试需要和测试计划，定制整体测试流程。

存储器晶圆探测自动测试设备信息由武汉精测电子集团股份有限公司为您提供，如您想了解更多关于存储器晶圆探测自动测试设备报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。