XRF 镀层测厚仪

日立用于测量镀层厚度和成分的台式 XRF 分析仪系列旨在应对当今电镀车间和电子元件制造商的挑战。每台仪器都包含强大的技术，可提供准确和精确的结果，坚固耐用，可以应对生产或实验室环境中的持续使用。

无论您的挑战是测量各种形状和尺寸、应对异常大的基材、测量超薄镀层的微小特征，还是仅仅是您必须在一天内完成的分析量，日立镀层 XRF 分析仪都能应对这些挑战，帮助您可以减少浪费、减少返工并确保离开您工厂的组件具有高质量。随着镀层变得越来越复杂，部件越来越小，我们的产品系列旨在应对未来的挑战，为您的投资提供永不过时的保障。

FT110A 是一款台式 XRF 镀层测厚仪，旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合，有助于提高电镀车间的生产力，同时确保组件符合严苛标准。

FT110A

• 正比计数器系统

• 元素范围：钛 - 铀

• 样品舱设计：开闭式或开槽式

• XY 轴样品台选择： 开闭式固定台、开闭式程控台、开槽式固定台、开槽式程控台

• 最大样品尺寸：500 x 400 x 150 毫米

• 最大数量准直器：4

• 滤光片：初级 1，二级（可选）1

• 可选最小准直器：0.05 毫米

• X-ray Station 软件

FT110A台式 XRF 镀层测厚仪信息由日立分析仪器（上海）有限公司为您提供，如您想了解更多关于FT110A台式 XRF 镀层测厚仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。