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X荧光光谱仪的原理及应用
X射线荧光分析是确定物质中微呈元素的种类和含量的一种方法,又称X射线次级发射光谱分析,是利用原级 射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生次级的特征 X射线(X光荧光)而进行物质成分分和化学态研究
X荧光光谱仪(简称XRF),它是由X光管发射的X射线,经过滤光片后,X射线的背景射线被滤光片吸收而减弱,然后经准直器变成平行光束,照射在样品上,样品受到激发,随即产生含有被测元素的特征X射线荧光的复合光束,进入探测器,探测器具有能量分辨能力,可以甄别样品所发射的不同能量特征的X射线荧光,探测器输出的信号经放大器的放大后进入运算装置,由于探测器输出的信号与入射的X射线荧光的能量成正比,因此可以得到定性、定量分析的能量谱图,经过计算机处理,得出定性、定量的结果。
仪器简介:
Thick 680 是天瑞根据多年的贵金属检测技术和经验,以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成。
技术参数:
X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统 空冷式微聚焦型X射线管,Be窗 标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等 X射线管:管电压50KV,管电流1mA 可测元素:Ti~U 检测器:正比计数管 样品观察:CCD摄像头 测定软件:薄膜FP法、检量线法 Z轴程控移动高度 20mm
主要特点:
专业贵金属检测 内置信噪比增强器,可有效提高仪器信号处理能力25倍以上 智能贵金属软件,与仪器相得益彰 任意多个可选择的分析和识别模型 多变量非线性回收程序
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