您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
一、产品介绍Thermo Scientific™ Helios™ G4 DualBeam™产品系列凭借其最先进的聚焦离子束和电子束性能、专有软件、自动化和易用性特征,重新定义了样品制备和三维表征的标试方式。属于业界领先的Helios DualBeam系列的第四代产品,专为满足科学家和工程师的各类分析及研究需求而设计,它将创新的Thermo Scientific Elstar ™ 电子镜筒和卓越的Thermo Scientifc Tomahawk ™ 离子镜筒有机结合,前者可实现极高分辨率成像和最高材料衬度,而后者可实现最快速、最简单、最精确的高质量样品制备。系统不仅配置最先进的电子和离子光学系统,还采用了一系列最先进的技术,可实现简单一致的高分辨率S/TEM和原子探针断层扫描(APT)样品制备,以及最高质量的内部和三维表征,即使在最具挑战性的fic AutoTEM ™4软件(可选)和专业的应用知识,可快速轻松地定位制备各类材料的高分辨S/TEM样品。为了获得高质量的结果,需要使用低能离子进行精抛,以最大限度地减少样品的表面损伤。Tomahawk聚焦离子束(FIB)镜筒不仅可以在高电压下进行高分辨率成像和刻蚀,而且具有良好的低电压性能,可以制备高质量的TEM薄片。二、应用领域广泛的应用在生物学、医学、冶金学等学科领域。三、产品特点1. Tomahawk离子镜筒实现最快速、最简便的高质量、定位TEM和原子探针样品制备。2. 最佳Elstar电子镜筒以最短时间获取纳米尺度信息。3. 多达6个集成化镜筒内及透镜下探测器,采集优质、锐利、无荷电图像,提供最完整的样品信息。4. 可选AS&V4软件,精确定位感兴趣区域,获取最高质量、多模态内部和三维信息。5. 小于10nm复杂结构的快速、准确、精确刻蚀和沉积。6. 高度灵活的110 mm样品台和内置的Thermo Scientific Nav- Cam ™ 相机实现精确样品导航。7. 集成化样品清洁管理和专用的DCFI和Thermo Scientific SmartScan ™ 等模式实现无伪影成像。
赛默飞ThermoFisher|Helios G4 CX DualBeam双束显微镜|Helios G4 CX DualBeam|TFE000049|TFE000049,Helios G4 CX DualBeam
赛默飞ThermoFisher|Helios G4 CX DualBeam双束显微镜|Helios G4 CX DualBeam|TFE000049|TFE000049信息由上海杰星生物科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于赛默飞ThermoFisher|Helios G4 CX DualBeam双束显微镜|Helios G4 CX DualBeam|TFE000049|TFE000049报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
AMPP Paper 17654-2022 AMPP Paper 17654-2022
AMPP Paper 17717-2022 AMPP Paper 17717-2022
AMPP Paper 17754-2022 AMPP Paper 17754-2022
18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 扫描电子显微镜 用于扫描电子显微镜(TIFF/SEM)的标记图像文件格式
ISO 21466:2019 微束分析.扫描电子显微镜.用CD-SEM评定临界尺寸的方法
ISO/TS 21383:2021 微束分析.扫描电子显微镜.定量测量用扫描电子显微镜的鉴定
BS ISO 22493:2008 微束分析 扫描电子显微镜 词汇
BH GSO ISO 22493:2017 微束分析 扫描电子显微镜 词汇
GSO ISO 22493:2015 微束分析 扫描电子显微镜 词汇
KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析扫描电子显微镜词汇
KS D ISO 22493:2022 微束分析.扫描电子显微镜.词汇
KS D ISO 22493-2022 微束分析.扫描电子显微镜.词汇
18/30344520 DC BS ISO 21466 微束分析 扫描电子显微镜 CD-SEM 评估关键尺寸的方法
KS D ISO 22493:2012 微光束分析.扫描电子显微镜.术语
ISO 22493:2008 微光束分析.扫描电子显微镜方法.词汇
GB/T 33834-2017 微束分析 扫描电子显微术 生物试样扫描电子显微镜分析方法
KS D 2714-2016(2021) 扫描探针显微镜-侧向力显微镜法
JIS K 0132:1997 扫描电子显微镜总则
KS D 2714-2016 横向力显微镜扫描探针显微镜方法
KS D 2714-2021 扫描探针显微镜 侧向力显微镜方法
抗体偶联药物(ADC)开发与质量控制
大豆耐盐资源鉴定与功能育种应用
光学薄膜制备与测试专题研讨会
微生物测试片在食品致病菌检测中的应用
赛默飞ThermoFisher|Talos F200X扫描透射电镜|Talos F200X|TFE000120|TFE000120
日立HITACHI|新型高分辨场发射扫描电镜|Regulus8240|HTE000019|HTE000019
日立HITACHI|台式扫描电镜|AeroSurf1500|HTE000026|HTE000026
赛默飞ThermoFisher|Scios 2 DualBeam双束电镜|Scios 2 DualBeam|TFE000048|TFE000048
赛默飞ThermoFisher|Apreo扫描电镜|Apreo|TFE000050|TFE000050
赛默飞ThermoFisher|QuattroESEM环境扫描电镜|QuattroESEM|TFE000051|TFE000051
赛默飞ThermoFisher|Verios XHR SEM扫描电镜|Verios XHR SEM|TFE000052|TFE000052
赛默飞ThermoFisher|Verios™5 XHR扫描电镜|Verios™5 XHR|TFE000053|TFE000053
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号