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发布时间:2023年04月
NanolinkSZ901系列是真理光学在S900基础上基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度分析系统,采用动态光散射(DLS)技术进行纳米粒度测量,被广泛应用于有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等样品的颗粒表征及样品体系稳定性及颗粒团聚倾向性的检测和分析。
NanolinkSZ901纳米粒度分析仪的杰出性能和主要特点包括: ◆经典90°动态光散射技术测量粒径,测量范围覆盖0.3nm–15μm ◆加持自动恒温技术的最高功率可达50mW,波长638nm的固体激光光源,仪器即开即用 ◆独创的余弦拟合法(CFLS)优于目前的频谱分析法(FFT)和位相分析法(PALS) ◆独创的激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术 ◆独创的信号光与参考光的光纤合束及干涉技术 ◆集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器 ◆常规温度控制范围可达-10°C~120°C,精度±0.1°C ◆新一代高速数字相关器,动态范围大于10¹¹ ◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术
注:* 取决于样品及样品池选件
Nanolink SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪,Nanolink SZ901
Nanolink SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪信息由珠海真理光学仪器有限公司为您提供,如您想了解更多关于Nanolink SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
Nanolink S900/ SZ900纳米粒度仪
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