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称量是实验室中的常见任务, 超微量天平、半微量天平、分析天平和精密天平已经发展到一个新阶段,一般来说,不需要特殊的称量房间。电子技术的进步已经极大的简化了天平的操作,减少了称量时间,使天平适应性更强,现在可以直接融合到生产流程中。但是,该过程中的固有风险没有受到足够的重视以阻止来自周围区域的干扰因素。当使用精密、半精密和分析天平时,如果要得到高质量的结果,有许多需要特别注意的点,这些说明的目的就是为了阐明这些点。
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