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透射电镜原位高温力学测量系统(定量力+电+三维操纵+加热)同时集成了力学测量模块及MEMS芯片模块,可以在对样品1000℃加热的同时进行定量的力学测量。实现了透射电镜中真正意义上的高分辨率定量原位力学研究。
力学传感器指标
●最大载荷100mN;
●力测量实测噪声优于5nN (0.1mN最大载荷时) ;
●力测量实测分辩率优于5nN;
●自动测量力-距离曲线,自动保存。
加热指标
●温度控制范围:室温至1000"C;
●温度准确度:优于5%;
●温度稳定性:优于±0.1℃。
应用领域
部分国内用户
透射电镜原位高温力学测量系统(定量力+电+三维操纵+加热),TEM高温力学(定量力+电+三维操纵+加热)
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PicoFemto系列扫描电子显微镜原位加热台基于MEMS加热芯片技术,温度范围:室温至1200摄氏度。PicoFemto 系列扫描电子显微镜原位加热台 基于MEMS芯片加热技术,无惧高温对电镜造成损失,通过更换不同芯片种类,实现扫描电镜内的原位加热/电学实验。原位加热台-技术指标加热控温1. 四电极芯片加热,带温度反馈;2. 温度范围:室温至1200℃;3. 控温精度:±0.1℃;4. 升温速度:100℃/s;5. 软件功能:PID/Puls/Manua
PicoFemto系列透射电镜原位加热/电学样品杆,基于MEMS原位芯片技术,通过更换多种类型的加热芯片或电学芯片,在透射电镜中实现对样品加热或加电的原位功能。PicoFemto 系列透射电子显微镜 原位加热/电学样品杆 是在标准外形的透射电镜样品杆内安装MEMS工艺制成的加热芯片和电学测量芯片。加热芯片可对样品进行可控温度的加热,电学测量芯片可对样品进行电性质测量。并可在进行加热和电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结
PicoFemto系列透射电镜原位测量系统源于中科院物理研究所SF1组(20世纪90年代),围绕原位电学测量样品杆,泽攸科技不断进行产品迭代及功能拓展,已推出电、力、光、热、低温等多种原位功能样品杆,产品覆盖国内原位电镜市场的同时也远销美国、英国、德国及澳大利亚科研市场。PicoFemto 系列透射电子显微镜 原位电学测量样品杆 是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并在
原位透射电子显微分析方法是实时观测和记录位于电镜内部的样品对于不同外部激励信号的动态响应过程的方法,是当前物质结构表征科学中具有发展空间的研究领域之一。这一类分析方法按照实现方案和功能分可大致分为两大类: (1)基于MEMS芯片技术的原位解决方案。这类方案利用原位样品杆搭载MEMS芯片,在TEM中可实现原位加热、电学测量、液体和气氛环境等功能。 (2)基于STM纳米操纵技术的原位解决方案。这类方案利用集成于原
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