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仪器简介:由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低,它们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要,本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻率的测量。 用途: (1) 金属、半导体、导电高分子薄膜(块体)电阻率的测量; (2) 金属薄膜材料电阻率的测量(zei大厚度0.2毫米);金属块体材料电阻率的测量(zei大厚度6毫米) 仪器组成: 1、 四探针组件 由具有引线的四根探针组成。 2、 SB118精密直流电流源 输出电流10-6~0.2安培范围内可调。 3、 直流数字电压表 直流数字电压表是具有6位半字长、0.1为微伏电压分辨率的带单片微机处理技术的高精度电子测量仪器。 技术参数:由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低,它们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要,本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻率的测量。 用途: (1) 金属、半导体、导电高分子薄膜(块体)电阻率的测量; (2) 金属薄膜材料电阻率的测量(zei大厚度0.2毫米);金属块体材料电阻率的测量(zei大厚度6毫米) 仪器组成: 1、 四探针组件 由具有引线的四根探针组成。 2、 SB118精密直流电流源 输出电流10-6~0.2安培范围内可调。 3、 直流数字电压表 直流数字电压表是具有6位半字长、0.1为微伏电压分辨率的带单片微机处理技术的高精度电子测量仪器。 主要特点:由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低,它们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要,本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻率的测量。 用途: (1) 金属、半导体、导电高分子薄膜(块体)电阻率的测量; (2) 金属薄膜材料电阻率的测量(zei大厚度0.2毫米);金属块体材料电阻率的测量(zei大厚度6毫米) 仪器组成: 1、 四探针组件 由具有引线的四根探针组成。 2、 SB118精密直流电流源 输出电流10-6~0.2安培范围内可调。 3、 直流数字电压表 直流数字电压表是具有6位半字长、0.1为微伏电压分辨率的带单片微机处理技术的高精度电子测量仪器。 相关产品关键字:RTS-4四探针测试仪、RTS-5四探针测试仪、RTS-9双电测四探针测试仪、RTS-8四探针测试仪、RTS-3四探针测试仪、RTS-2四探针测试仪、SB100A/2四探针导体/半导体电阻率测试仪、ST-21 方块电阻测试仪、CV-2000 型电容电压特性测试仪、PN-30 导电类型鉴别仪、PN-12 导电类型鉴别仪、LT-2 单晶少子寿命测试仪、LT-3 单晶少子寿命测试仪
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