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SPARC Compact是一款具有滤色功能的高端阴极发光强度检测器。易于集成到SEM中的SPARC Compact是一种非常可靠的显微解决方案,用以洞悉有关晶体生长分区,置换,变形,物源,地质样品中微量元素的存在以及半导体中缺陷结构等过程。
SPARC Compact的系统高度模块化,这意味着它可以随着您的研究的发展和向前进行升级和增强。同时,我们Delmic的团队也跟这款系统一样将随时为您提供支持,并确保您获得高质量研究结果并离您的目标更进一步。
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SPARC Spectral: 强大的阴极发光探测器
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