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PicoFemto透射电镜原位MEMS加热/电学测量系统,透射电子显微镜是提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。
PicoFemto透射电镜原位MEMS加热/电学测量系统,透射电子显微镜是提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。透射电子显微镜原位加热/电学测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内安装MEMS工艺制成的微加热芯片和电学测量芯片。微加热芯片可对样品进行可控温度的加热,电学测量芯片可对样品进行电性质测量。并可在进行加热和电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。
本系统硬件包括两部分,分别是加热/电学测量控制器、原位MEMS芯片样品杆。软件包括自动控温软件和自动电学测量软件。
性能指标
透射电子显微镜指标:
● 兼容指定型号电镜及极靴;
● 单倾可选高倾角版本;
● 可选双倾版本,β角倾转±25°(同时受限于极靴);
● 测量电极数可选。
电学测量指标:
● 包含一个电流电压测试单元;
● 电压输出Z大±200 V,Z小±100 nV;
● 电流测量Z大±1.5 A,Z小100 fA;
● 恒压或者恒流模式;
● 自动电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存。
加热与温控指标:
● 温度控制范围:室温到1200 ℃;
● 加热功率:Z大30 W;
● 控温稳定性:优于±0.1 ℃;
● Z大升温速率:1000 ℃/ms。
部分国内用户
部分国外用户
PicoFemto透射电镜原位MEMS加热/电学测量系统,PicoFemto MEMS加热/电学
PicoFemto透射电镜原位MEMS加热/电学测量系统信息由安徽泽攸科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于PicoFemto透射电镜原位MEMS加热/电学测量系统报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
PicoFemto系列扫描电子显微镜原位加热台基于MEMS加热芯片技术,温度范围:室温至1200摄氏度。PicoFemto 系列扫描电子显微镜原位加热台 基于MEMS芯片加热技术,无惧高温对电镜造成损失,通过更换不同芯片种类,实现扫描电镜内的原位加热/电学实验。原位加热台-技术指标加热控温1. 四电极芯片加热,带温度反馈;2. 温度范围:室温至1200℃;3. 控温精度:±0.1℃;4. 升温速度:100℃/s;5. 软件功能:PID/Puls/Manua
PicoFemto系列透射电镜原位加热/电学样品杆,基于MEMS原位芯片技术,通过更换多种类型的加热芯片或电学芯片,在透射电镜中实现对样品加热或加电的原位功能。PicoFemto 系列透射电子显微镜 原位加热/电学样品杆 是在标准外形的透射电镜样品杆内安装MEMS工艺制成的加热芯片和电学测量芯片。加热芯片可对样品进行可控温度的加热,电学测量芯片可对样品进行电性质测量。并可在进行加热和电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结
PicoFemto系列透射电镜原位测量系统源于中科院物理研究所SF1组(20世纪90年代),围绕原位电学测量样品杆,泽攸科技不断进行产品迭代及功能拓展,已推出电、力、光、热、低温等多种原位功能样品杆,产品覆盖国内原位电镜市场的同时也远销美国、英国、德国及澳大利亚科研市场。PicoFemto 系列透射电子显微镜 原位电学测量样品杆 是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并在
原位透射电子显微分析方法是实时观测和记录位于电镜内部的样品对于不同外部激励信号的动态响应过程的方法,是当前物质结构表征科学中具有发展空间的研究领域之一。这一类分析方法按照实现方案和功能分可大致分为两大类: (1)基于MEMS芯片技术的原位解决方案。这类方案利用原位样品杆搭载MEMS芯片,在TEM中可实现原位加热、电学测量、液体和气氛环境等功能。 (2)基于STM纳米操纵技术的原位解决方案。这类方案利用集成于原
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