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PicoFemto透射电镜原位MEMS低温电学测量系统,是在标配MEMS芯片样品杆上集成低温控制模块,实现低温电学测量或全温区测量功能。
性能指标
透射电子显微镜指标:
● 兼容指定型号电镜及极靴;
● 单倾可选高倾角版本;
● 可选双倾版本,β角倾转±25°(同时受限于极靴);
● 测量电极数可选。
电学测量指标:
● 包含一个电流电压测试单元;
● 电压输出最大±200 V,最小±100 nV;
● 电流测量最大±1.5 A,最小100 fA;
● 恒压或者恒流模式;
● 自动电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存。
低温指标:
● 兼容MEMS加热及电学芯片;
● 全温区测量,温度范围:85 K- 380 K;
● 控温稳定性:优于±0.1 K;
● 温度连续可控。
部分国内用户
部分国外用户
PicoFemto透射电镜原位MEMS低温电学测量系统,PicoFemto MEMS低温电学测量
PicoFemto透射电镜原位MEMS低温电学测量系统信息由安徽泽攸科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于PicoFemto透射电镜原位MEMS低温电学测量系统报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
PicoFemto系列透射电镜原位测量系统源于中科院物理研究所SF1组(20世纪90年代),围绕原位电学测量样品杆,泽攸科技不断进行产品迭代及功能拓展,已推出电、力、光、热、低温等多种原位功能样品杆,产品覆盖国内原位电镜市场的同时也远销美国、英国、德国及澳大利亚科研市场。PicoFemto 系列透射电子显微镜 原位电学测量样品杆 是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并在
问:ZEM15台式扫描电镜可以在低温下给样品测试吗?答:ZEM15台式扫描电镜可以搭载各品类PicoFemto原位样品台,轻松完成加热、拉伸、低温、电学测试、光学测试等原位SEM测量功能,详情请询客服。国产台式扫描电镜
原位透射电子显微分析方法是实时观测和记录位于电镜内部的样品对于不同外部激励信号的动态响应过程的方法,是当前物质结构表征科学中具有发展空间的研究领域之一。这一类分析方法按照实现方案和功能分可大致分为两大类: (1)基于MEMS芯片技术的原位解决方案。这类方案利用原位样品杆搭载MEMS芯片,在TEM中可实现原位加热、电学测量、液体和气氛环境等功能。 (2)基于STM纳米操纵技术的原位解决方案。这类方案利用集成于原
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