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PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量。
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并可在电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。
透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统在标配的STM-TEM样品杆上集成低温环境控制单元,从而实现在透射电镜中进行原位低温电学测量的目的。
性能指标
透射电镜指标:
● 兼容指定电镜型号及极靴;
● 可选双倾版本,双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°(同时受限于极靴间距);
● 保证透射电镜原有分辨率。
电学测量指标:
● 包含一个电流电压测试单元;
● 电流测量范围:1 nA-30 mA,9个量程;
● 电流分辨率:优于100 fA;
● 电压输出范围:普通模式±10 V,高压模式±150 V;
● 自动电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存。
扫描探针操纵指标:
● 粗调范围:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;
● 细调范围:XY方向18 um,Z方向1.5 um;
● 细调分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。
低温参数指标:
● 兼容指定型号透射电镜及极靴;
● 全温区结构分辨率优于0.2 nm;
● 变温范围为85 K-380 K,温度稳定性优于±0.1 K。
产品特色
(1)温度连续可控,稳定性高;
(2)低温下可实现对样品施加应力及电学研究。
部分国内用户
部分国外用户
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统,PicoFemto STM-TEM低温
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统信息由安徽泽攸科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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