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SIG-300近场光学测试系统可采集并汇集光源周围多角度面向的亮度及颜色测量,这些光信号会汇整至Radiant Source Model(RSM)进一步分析出光源的效率,这些分析数据可用来提供光学设计上使用。SIG-300透过坚固的机械设计、精准的光学配置及软件控制来达到工业等级般的精准测量。SIG-300可适用于一般大多数的光源,从LED光源到中尺寸的光源测量,垂直方向或是水平方向的光源测量皆适用,并且有微小影像分析、标准影像分析及微小视觉范围可做选配。
特点: 支持垂直光源及水平光源设置测量 提供亮度及颜色的近场测量模型 视觉范围及分析的多光学结构配置 用集成影像数据来产生RSM的模型 稳定性极高的LED光源及弧光光源精准测量模式
应用: 测量待测光源所有角度近场光强度分布与色度 提供精确的射线组合提供光学设计套件软件使用 提供光学设计与原型测试的近场模型 产品特征参数:
光源影像式角度计SIG-300,SIG-300
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