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OP-XCT 既可以作为时间补偿双单色仪,也能用于成像光谱。可诊断光谱仪研究形成HHG 激光源,也可以改变出射狭缝处镜面位置,输出单色光照射样品。
软X-RAY 光谱仪列表
o= 标准或者可选项,单道多道指的是探测器
型号
波段 (nm)
光谱分辨率 (nm)
焦长 (mm)
单道
多道
成像
真空
高真空
光学设计
248/310G
<1-310
0.018
1,000
o
掠入射罗兰圆结构
251
10-170
0.05
292
VLS 平场超环面
251MX
1-20
0.02
5,649
VLS 平场光栅
XCT
8-120
0.1
2,000
掠入射 C-T 结构,8° AOI
OP-XCT
0.08
800
掠入射 C-T 结构,5° AOI
掠入射C-T 结构
• 基于传统C-T 结构
• 掠入射 >80 度入射角
• 采用平面光栅
• 良好点到点成像效果
• 高通光量
• 单点扫描或CCD 成像探测
• 光谱范围: 8-120nm
• 代表型号:XCT,OP-XCT
OP‐XCT软X-RAY光谱仪,OP‐XCT
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高分辨率光谱仪-2061
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