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结合创新型的光学器件设计,SR-750 配合Andor 公司的各型高性能光谱专用CCD/ICCD,可以非常方便进行空间多点光谱的同时采集与测量。SR-750 可以配用多种附件,拓展应用领域, 在透射/ 反射/ 吸收光谱、Raman 光谱、荧光光谱、激光诱导解离光谱等实验中,提供*佳的系统解决方案。
SR-750超高分辨率光谱仪主要特点:
• 分辨率*高可达0.02nm
• 多路光谱优化光路,低串扰,高密度多路光谱探测
• 双探测器出口选项,可安装不同类型探测器满足不同实验需求
• 光学元件镀银选项,保证红外探测器更好的性能
SR-750超高分辨率光谱仪技术参数:
型号
Shamrock 750
焦距长度
750mm
通光孔径(F/#)
F/9.8
焦平面尺寸
30mm×14mm
光谱分辨率 @1200l/mm,500nm
0.04nm
光栅塔轮
三光栅
自动聚焦
-
TruResTM 分辨率增强选项
波长精度
0.03nm
波长重复精度
10pm
不同光栅对应的分辨率及覆盖带宽:
绿色: 无限制自由使用区域;黄色: 可能对系统分辨率产生影响; 红色: 对系统分辨率有影响
光栅效率曲线
简单四步选择光谱仪配置:
SR-750超高分辨率光谱仪,SR-750
SR-750超高分辨率光谱仪信息由北京先锋泰坦科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于SR-750超高分辨率光谱仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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