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产品简介:
XAD-200是一款全元素上照式荧光光谱仪,既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的膜厚性能,又可满足RoHS有害元素检测及成分分析,搭载全自动平台实现XYZ轴编程位移,实现无人值守 多点测量,测量软件置入先进的EFP算法及解谱技术,解决了诸多业界难题。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用.
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