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纳米力学测试系统—美国NANOVEA 简介: 美国NANOVEA公司是一家全球公认的微纳米力学测试系统的领航者,生产的微纳米力学测试系统是目前国际上用在科学研究和工业领域zei先进的设备。 主要应用: 半导体技术(钝化层、镀金属、Bond Pads);存储材料(磁盘的保护层、磁盘基底上的磁性涂层、CD的保护层);光学组件(接触镜头、光纤、光学刮擦保护层);金属蒸镀层;防磨损涂层(TiN, TiC, DLC, 切割工具);药理学(药片、植入材料、生物组织);工程学(油漆涂料、橡胶、触摸屏、MEMS)等行业; 技术特点: 纳米压痕仪: 主要用于微纳米尺度薄膜材料的硬度与杨氏模量测试,测试结果通过力与压入深度的曲线计算得出,无需通过显微镜观察压痕面积。 •完全符合ISO14577、ASTME2546 •光学显微镜自动观察 •独特的热漂移控制技术 •可硬度、刚度、弹性模量、断裂刚度、失效点、应力-应变、蠕变性能等力学数据。 •适时测量载荷大小 •采用独立的载荷加载系统与高分辨率的电容深度传感器 •快速的压电陶瓷驱动的载荷反馈系统 •双标准校正:熔融石英与蓝宝石 技术参数: • zei大加载载荷:400mN • 载荷分辨率:30nN • 可实现的zei小载荷:1.5µN • 位移分辨率:0.003nm • 可实现的自小位移:0.04nm • 可实现的zei大位移:250µm • 热飘逸<0.05nm/s(室温条件下) • DMA模式:20HZ 纳米划痕仪: 1.划痕正向力zei小载荷:500mN 2.载荷分辨率:0.75mN 3.划痕正向力zei大载荷:40N 4.zei大摩擦力:40N 5.zei大划痕深度:300µm 6.zei大划痕长度:150mm 7.划痕速度:0-240mm/min
纳米力学测试系统,NMT
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