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XF-P1是西凡仪器面向镀层检测行业推出的一款镀层测厚仪,可广泛应用于各种电镀、化学镀等行业。该产品使用进口定制Si-PIN探测器,内置工控电脑,运行Smart FP算法。无需标样,可同时检测镀层厚度和成分,检测速度快,测试稳定性好、准确性高。
西凡镀层测厚仪XF-P1产品特点
元素检测范围:铝(No.13)~铀(No.92)
可支持四层检测
可同时支持镀层厚度和成分检测
检出限:5nm(厚度),5ppm(成分)
检测精度:相对误差±2.5%(1um厚度)
定制TCP/IP协议API接口,支持外部主机对设备的控制、状态监控及数据采集
遵守GB/T16921, ISO3497:2000, ASTM-B658标准。
铅玻璃窗口,方便观察样品
西凡镀层测厚仪XF-P1,XF-P1
西凡镀层测厚仪XF-P1信息由西凡仪器(深圳)有限公司为您提供,如您想了解更多关于西凡镀层测厚仪XF-P1报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
西凡矿石粉末分析仪XF-M5
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