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三丰Mitutoyo影像仪 非接触 3D 测量系统 Hyper QVWLI
● Hyper QVWLI 是 QV 配备白光干涉仪的复合型高精度 3D 测量系统。
● 可根据 WLI 光学系统获取的 3D 数据进行三维表面形状分析 / 三维粗糙度分析。还可根据 3D 数据,进行高度的尺寸测量和截面形状测量。
规格
型号
项目
测量范围
( X × Y × Z )
WLI 光学测头装置
5X 镜头 : 约 0.64 × 0.48 mm/10X 镜头 : 约 0.32 × 0.24 mm/
25X 镜头 : 约 0.13 × 0.10 mm/50X 镜头 : 约 0.064 × 0.048 mm
精度 * 2
*1 WLI 光学测头的可移动范围。
*2: 按照本公司检查方法。 L 为任意 2 点间的尺寸 ( mm ) 。
三丰Mitutoyo影像仪 非接触 3D 测量系统,Hyper QVWLI
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